兩三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

更新時(shí)間：2024-12-11

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簡(jiǎn)要描述：

深圳市普云電子有限公司出品的PY-E516系列兩三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性。

深圳市普云電子有限公司出品的PY-E516系列兩三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性。

兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱的技術(shù)參數(shù)：

型號(hào)	PY-E516-50K	PY-E516-100K	PY-E516-150K	PY-E516-200K
標(biāo)稱內(nèi)容積	50L	100L	150L	200L
內(nèi)箱尺寸(WxHxD)mm	350x400x350	500x450x450	600x500x500	700x600x600
溫度沖擊范圍	A:-40℃~200℃ B:-55℃~200℃ C:-65℃~200℃
高溫區(qū)預(yù)熱范圍	50℃~220℃
低溫區(qū)預(yù)熱范圍	-10℃~-80℃
溫度偏差	±0.3℃
溫度均差	±2℃
二箱吊籃沖擊轉(zhuǎn)換時(shí)間	≦8S
高溫區(qū)升溫時(shí)間	RT℃ → + 150℃ 約30min
低溫區(qū)降溫時(shí)間	RT℃ → -80℃ 約60min
制冷方式	機(jī)械式二元復(fù)疊制冷方式
冷卻系統(tǒng)	風(fēng)冷式/水冷式
壓縮機(jī)	進(jìn)口博客（或日立，谷輪）壓縮機(jī)
冷媒	環(huán)保冷媒R404A/R23
保溫材質(zhì)	耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料
加熱系統(tǒng)	鎳鉻合金加熱器
內(nèi)箱材質(zhì)	304不銹鋼
外箱材質(zhì)	A3冷軋鋼板靜電雙面噴塑
電源	380V，50/60HZ

兩三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y(cè)試，提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過(guò)此設(shè)備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性及產(chǎn)品的質(zhì)量控制；冷熱沖擊試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域常用的測(cè)試設(shè)備，考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品，在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能，適用于學(xué)校、工廠、軍工、研位等單位。

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱的技術(shù)參數(shù)：

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
PY-E516系列			80L	150L	225L	408L
內(nèi)部尺寸（mm）		W	500	600	750	850
		H	400	500	500	600
		D	400	500	600	800
外形尺寸（mm）		W	1460	1560	1710	1880
		H	1840	1940	1940	2040
		D	1500	1600	1700	1900
試驗(yàn)方式			氣動(dòng)風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式
性能	高溫室	預(yù)熱溫度范圍	﹢60℃ ～ ﹢200℃
		升溫速率	﹢60→＋200℃≤20分鐘
	低溫室	預(yù)冷溫度范圍	﹣78－0℃
		降溫速率	﹢20→－75℃≤80分鐘
	試驗(yàn)室	溫度偏差	±2℃
		溫度范圍	TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃ TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃ TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
		溫度恢復(fù)時(shí)間	5分鐘以內(nèi)
試樣擱架承載能力（kg）			30
試樣重量（kg）			7.5	7.5	10	10
注：外形尺寸（不包括外形凸起部分）；升溫速率和降溫速率（溫度上升和溫度下降均為試驗(yàn)箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能）；溫度恢復(fù)條件（室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路）
詳細(xì)參數(shù)以對(duì)應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格書(shū)為準(zhǔn)

高低溫試驗(yàn)箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 氣候環(huán)境與可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備深圳市普云電子有限公司.png

模擬氣候環(huán)境試驗(yàn)箱與可靠性測(cè)試設(shè)備：恒溫恒濕房、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫交變?cè)囼?yàn)箱、冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱、快速溫變濕熱交變?cè)囼?yàn)箱、鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱、霉菌淋雨砂塵氙燈老化試驗(yàn)箱、高溫低溫箱等.jpg

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