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薄膜材料應(yīng)力彈性模量和抗彎曲強(qiáng)挺度測(cè)定儀

更新時(shí)間:2024-12-11

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簡(jiǎn)要描述:

薄膜材料應(yīng)力彈性模量和抗彎曲強(qiáng)挺度測(cè)定儀PY-H609挺度儀是由深圳市普云電子有限公司出品的一款主要用于測(cè)量各類工業(yè)塑料片材、工業(yè)薄膜、絕緣材料、工藝薄膜、光電薄膜、半導(dǎo)體工藝薄膜、硬質(zhì)涂層薄膜、造紙包裝等復(fù)合新材料的彎曲彈性模量-挺度反復(fù)試驗(yàn)的測(cè)試儀器,又叫材料彎曲挺度測(cè)試儀,薄膜挺度儀,材料抗彎曲試驗(yàn)機(jī)等等。

薄膜材料應(yīng)力彈性模量和抗彎曲強(qiáng)挺度測(cè)定儀

薄膜材料應(yīng)力彈性模量和抗彎曲強(qiáng)挺度測(cè)定儀PY-H609挺度儀是由深圳市普云電子有限公司出品的一款主要用于測(cè)量各類工業(yè)塑料片材、工業(yè)薄膜、絕緣材料、工藝薄膜、光電薄膜、半導(dǎo)體工藝薄膜、硬質(zhì)涂層薄膜、造紙包裝等復(fù)合新材料的彎曲彈性模量-挺度反復(fù)試驗(yàn)的測(cè)試儀器,又叫材料彎曲挺度測(cè)試儀,薄膜挺度儀,材料抗彎曲試驗(yàn)機(jī)等等,是工業(yè)新材料研發(fā)生產(chǎn)以及相關(guān)科研機(jī)構(gòu)和質(zhì)檢部門常用檢測(cè)設(shè)備。


標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)

GB/T2679·3 《紙和紙板挺度的測(cè)定》;

GB/T23144 《紙和紙板靜態(tài)彎曲挺度的測(cè)定通用原理》;

ISO5628 《紙和紙板—靜態(tài)彎曲挺度測(cè)定一般原理》;

ISO2493 《紙和紙板—彎曲挺度的測(cè)定》。



技術(shù)參數(shù)

1、測(cè)試間距 :1-50mm可調(diào)

(可選擇夾持距離:1mm,5mm,10mm,15mm,20mm,25mm,30mm,40mm,50mm

2、跨距精度 :±0.1mm

3、測(cè)量范圍 :0~2000mN可選配

4、傳感器 :傳感精準(zhǔn)度±0.1%

5、分辨力 :0.01mN

6、彎曲角度 :1~90o無極可調(diào)

7、多功能測(cè)量 :挺度/折痕挺度雙系統(tǒng)

8、角速度控制 :0.5~5°/sec可調(diào)

9、角度精度 :±0.1°

10、測(cè)量厚度 :0.01~5.0mm

11、彎曲時(shí)間 :0~50s

12、操作界面 :7inch觸摸屏或按鈕測(cè)試

13、信號(hào)輸出 :標(biāo)準(zhǔn)電腦信號(hào)輸出,鏈接電腦(選配)

14、打印輸出 :模塊式一體熱敏打印機(jī)

15、外形尺寸 :300mm*300mm*320mm

16、凈重 :20kg

17、電源:220v/50Hz

18、型號(hào):PY-H609材料彎曲挺度測(cè)定儀

19、廠家:深圳市普云電子有限公司


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薄膜材料應(yīng)力彈性模量和抗彎曲強(qiáng)挺度測(cè)定儀PY-H609挺度儀基本應(yīng)用:

1、塑料薄片:適用于各種石墨片材,光學(xué)膜片、無紡布、復(fù)合片狀材料硬挺度測(cè)試;

2、硬挺度測(cè)試:適用于線材、塑料、紙張、紙板、薄膜等薄片材料硬挺度測(cè)試;

3、導(dǎo)電新材料:光學(xué)膜片、金屬薄片、導(dǎo)光板、擴(kuò)散板、電視背景板硬挺度測(cè)試;



拓展應(yīng)用:

1、工業(yè)線材:適用于各種纖維線材、電源線、金屬排線硬挺度測(cè)試;

2、紙張紙板:適用于各種紙張、紙板、紙盒彎曲硬挺度測(cè)試;

3、彎曲挺度測(cè)試:適用于紙張、紙板、薄膜、塑料薄片、纖維織布、工業(yè)線材、導(dǎo)電新材料彎曲挺度測(cè)試;

4、折痕挺度測(cè)試:適用于各種彩盒、牙膏盒等包裝盒折痕壓痕挺度測(cè)試;




材料彎曲性能測(cè)定儀用于測(cè)定工業(yè)塑料纖維板材彎曲挺度測(cè)試、導(dǎo)電光學(xué)納米新材料的硬挺度和回彈性能測(cè)試,可根據(jù)試驗(yàn)要求設(shè)定試樣縱橫向、張力大小、測(cè)試速度以及彎曲角度。



網(wǎng)摘:

薄膜應(yīng)力的研究進(jìn)程薄膜應(yīng)力是沿截面厚度均勻分布的應(yīng)力成分,國(guó)內(nèi)外對(duì)薄膜應(yīng)力的研究有相當(dāng)長(zhǎng)的歷史,自從18世紀(jì)發(fā)現(xiàn)電鍍薄膜中具有應(yīng)力,然后有相關(guān)學(xué)者在金屬基片的變形中測(cè)量出了薄膜的內(nèi)應(yīng)力,建立薄膜基片系統(tǒng)的薄膜應(yīng)力和基片曲率關(guān)系式:δf=Eshs2/6(1-vs)R。δf是薄膜應(yīng)力值;Es是金屬薄片的基片彈性模數(shù);hs是金屬薄片基片的厚度;R為彎曲薄片的曲率半徑。在薄膜應(yīng)力的研究過程中,應(yīng)力現(xiàn)象比較復(fù)雜,沒有物理模型能夠準(zhǔn)確描述出應(yīng)力現(xiàn)象

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